產品詳情
電化學石英晶體微天平EQCM/QCMD是一款通過測量石英晶體的頻率變化實現質量檢測的高靈敏度設備。
電化學石英晶體微天平EQCM/QCMD作為高靈敏度的測試儀器, 它可以測量在傳感器表面或附近吸附層ng級的“濕質量"。該設備的測量原理是基于石英晶體的阻抗分析,測量諧振頻率和諧振電導曲線的峰寬。諧振電導曲線的峰寬或半峰寬與耗散因子(Q)直接相關。可以對多種不同類型表面的分子相互作用和分子吸附進行研究,應用范圍包括蛋白質、脂質、聚電解質、高分子和細胞/細菌等與表面或與已吸附分子層之間的相互作用;可提供多個頻率和耗散因子數據, 用于充分了解在傳感器表面吸附的分子的狀態。
應用領域:
1.傳感器(qi)開發
2.蛋白質凝聚研究
3.生(sheng)物膜(mo)表(biao)面(mian)污垢表(biao)征(zheng)
4.細胞學表征
5.雙脂質層表征(zheng)
6.電池材(cai)料研發(fa)
7.電聚合(he)
8.各類工業(ye)條件(真(zhen)空、滴鑄(zhu)、油墨噴印(yin))下的覆膜監控
9.手套箱環境
10.ALD逐層沉積(ji)
儀器參數:
頻率測試范圍 | 1-61 MHz (基頻(pin)為5 MHz時,可(ke)測試13級(ji)倍頻(pin)) 基(ji)頻為3MHz時,可測試17階(jie)倍頻 基頻(pin)(pin)為5MHz時,可測試12階倍頻(pin)(pin) 基頻為(wei)10MHz時,可測試5階(jie)倍頻 |
液體中倍(bei)頻靈敏度 | 1 Hz |
液(ye)體(ti)中耗散靈敏(min)度(du) | ~1x10-6 |
質量(liang)靈敏度 | <5ng cm-2 |
每個(ge)倍(bei)頻下測試(shi)參數 | 倍頻曲線、頻率、頻率變化、半峰寬、半峰寬變化、耗散因子、耗散因子變化、溫度 |