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日立FIB-SEM三束系統追求的TEM樣品制備工具 在設備及高性能納米材料的評價和分析領域，FIB-SEM已成為*的工具。 近來，目標觀察物更趨微細化；更薄，更低損傷樣品的制備需求更進一步凸顯。

型號：NX2000

更新日期：2022-06-20

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高精度實時三維分析FIB-SEM三束系統通過自動重復使用FIB制備截面和進行SEM觀察，采集一系列連續截面圖像，并重構特定微區的三維結構。 采用的鏡筒布局，從*材料、*設備到生物組織——在寬廣的領域范圍內實現傳統機型難以企及的高精度三維結構分析。

型號：NX9000

更新日期：2022-06-20

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高性能FIB-SEM系統高性能與高靈活性兼備 “Ethos”采用日立高新的核心技術--的高亮度冷場發射電子槍及新研發的電磁復合透鏡，不但可以在低加速電壓下實現高分辨觀察，還可以在FIB加工時實現實時觀察。

型號：Ethos NX5000

更新日期：2022-06-20

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日立球差場發射透射電子顯微鏡200 kV相差校正TEM/STEM，平衡了空間分辨率和傾斜、分析性能 通過單極片實現0.078 nm的STEM空間分辨率和高樣品傾斜度、高立體角EDX。 透射電子顯微鏡除了延續了日立公司配備的具有掃描透射電子顯微鏡“HD-2700”的球面像差校正器的功能、自動校正功能，像差校正

型號：HF5000

更新日期：2022-06-20

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日立掃描電子顯微鏡 FlexSEM 1000 II，憑借全新設計的電子光學系統和高靈敏度檢測器，可在加速電壓20 kV下實現4.0 nm的分辨率。全新開發的用戶界面，具有亮度和對焦自動調節功能，可以在短時間內進行各種觀察。此外，還搭載了全新的導航功能“SEM MAP”，這個功能可彌補電子顯微鏡上難以找準視野的缺點，實現最直觀的視野移動。

型號：FlexSEM 1000 II

更新日期：2022-06-20

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超高分辨肖特基場發射掃描電鏡SU7000不僅可以在低加速電壓下獲得高畫質圖像，而且還可以同時接收多種信號。此外，它還具備大視野觀察、In-Situ觀察等FE-SEM的眾多性能。 SU7000是一臺實現了信息獲取量的新型掃描電鏡，可以滿足客戶的多種觀察需求。

型號：SU7000

更新日期：2022-06-20

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日立鎢燈絲掃描電子顯微鏡日立全新一代高分辨鎢燈絲掃描電鏡SU3800采用全新的HexBias偏壓技術，使其低電壓性能大大提升，同時升級的高靈敏度背散射探測器和可變壓力探測器使得SU3800的觀察能力進一步提升。SU3800還增加了IFT燈絲監控技術、全新的光鏡導航、集成的能譜以及報告導出等功能，使其操作也變得更為簡單。

型號：SU3800

更新日期：2022-06-20

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