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    CGO-高(gao)(gao)低溫真(zhen)(zhen)空探(tan)針臺 溫度(du)范圍77K-675K(液氮);  可應用于(yu)真(zhen)(zhen)空及常規環境;  超高(gao)(gao)溫度(du)分辨率; 特殊(shu)客(ke)制低溫系統(tong); 具有*穩定性(xing)

    型號:CGO-2/CGO-4/CGO-6
    更新日期:2022-06-20
    面議
  • CT-6高低溫探針臺

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    型號:CT-6
    更新日期:2022-06-20
    面議
  • CS-4-HT/CS-6-HT/CH-8-HT/C高溫探針臺

    高溫探針臺可(ke)用于8英寸以內樣品測(ce)(ce)試 ; 可(ke)滿足500度高溫測(ce)(ce)試 ; 溫度穩定性高 ;兼容IV/CV/RF測(ce)(ce)試

    型號:CS-4-HT/CS-6-HT/CH-8-HT/C
    更新日期:2022-06-20
    面議
  • CW-4IGBT高壓大電流測試探針臺

    IGBT高(gao)壓(ya)大電(dian)流(liu)測(ce)試探針臺$nCINDBEST CW-4 | 4“ 高(gao)壓(ya)大電(dian)流(liu)探針臺測(ce)試系(xi)統(tong)$n可(ke)用于8英寸以內樣品測(ce)試 ;$n可(ke)升級(ji)做(zuo)射頻,大電(dian)流(liu)方面的測(ce)試和激光修復應(ying)用

    型號:CW-4
    更新日期:2022-06-20
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  • CH12綜合性分析探針臺測試系統

    CH-12 綜合性分析探針臺測(ce)試(shi)系統 最大可(ke)用于12英寸(cun)以內樣品測(ce)試(shi); 操作(zuo)便捷,功能其全,高效精(jing)準 ; 可(ke)滿足晶片測(ce)試(shi)、光電器件測(ce)試(shi)、PCB/IC測(ce)試(shi)、射頻測(ce)試(shi)、高壓大電流測(ce)試(shi)等

    型號:CH12
    更新日期:2022-06-20
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  • CH-8綜合性分析探針臺測試系統

    12“ 綜(zong)合(he)性分析探針臺測(ce)試(shi)系統: 最大可用于12英寸以內樣(yang)品測(ce)試(shi); 操作便捷,功能(neng)其全(quan),高效精(jing)準 ; 可滿足晶片測(ce)試(shi)、光電(dian)器件測(ce)試(shi)、PCB/IC測(ce)試(shi)、射(she)頻測(ce)試(shi)、高壓(ya)大電(dian)流(liu)測(ce)試(shi)等

    型號:CH-8
    更新日期:2022-06-20
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    型號:CL-6
    更新日期:2022-06-20
    面議
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    型號:CS-4
    更新日期:2022-06-20
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