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CBTZ半自動探針臺 CBTZ自動對位探針臺能對晶片實現自動對位測試， 操作簡單，快捷，測試精度高，具有MAP顯示功能。 與測試儀連接后，能自動完成對各種晶體管芯的電參數測試及功能測試

型號：CBTZ

更新日期：2022-06-20

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CGO-高低溫真空探針臺 溫度范圍77K-675K(液氮)； 可應用于真空及常規環境； 超高溫度分辨率； 特殊客制低溫系統； 具有*穩定性

型號：CGO-2/CGO-4/CGO-6

更新日期：2022-06-20

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高低溫探針臺是可用于12英寸以內樣品測試 采用密閉腔結構，屏蔽外部電信干擾同時保持氮氣正壓環境下樣品在低溫時無結霜

型號：CT-6

更新日期：2022-06-20

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高溫探針臺可用于8英寸以內樣品測試 ； 可滿足500度高溫測試 ； 溫度穩定性高 ；兼容IV/CV/RF測試

型號：CS-4-HT/CS-6-HT/CH-8-HT/C

更新日期：2022-06-20

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IGBT高壓大電流測試探針臺$nCINDBEST CW-4 | 4“ 高壓大電流探針臺測試系統$n可用于8英寸以內樣品測試 ；$n可升級做射頻，大電流方面的測試和激光修復應用

型號：CW-4

更新日期：2022-06-20

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CH-12 綜合性分析探針臺測試系統 最大可用于12英寸以內樣品測試； 操作便捷，功能其全，高效精準 ； 可滿足晶片測試、光電器件測試、PCB/IC測試、射頻測試、高壓大電流測試等

型號：CH12

更新日期：2022-06-20

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12“ 綜合性分析探針臺測試系統： 最大可用于12英寸以內樣品測試； 操作便捷，功能其全，高效精準 ； 可滿足晶片測試、光電器件測試、PCB/IC測試、射頻測試、高壓大電流測試等

型號：CH-8

更新日期：2022-06-20

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精密I-V測試測量探針臺系統特點 / 應用 ◆ 滿足I-V/C-V，PIV測試，光電測試等.，◆ 最大可用于8英寸以內樣品測試，同軸絲杠傳動結構，線性移動，兼容高倍率金相顯微鏡，可微調移動，可升級做射頻，大電流方面的測試和激光修復應用 CL系列探針臺可兼容高倍率金相顯微鏡，可微調移動 ；可升級做射頻，大電流方面的測試和激光修復應用

型號：CL-6

更新日期：2022-06-20

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